Transformations métallurgiques accompagnant le réglage du courant critique de microponts de Dayem en film de niobiumReport as inadecuate




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Résumé : Le courant critique des microponts de Dayem est couramment réglé à sa valeur utile de quelques dizaines de microampères, par application d-impulsions de courant. Nous décrivons dans cet article des observations, en microscopie électronique par transmission, de microponts formés d-une couche mince de niobium microcristallin déposée sur un substrat de silicium. Une croissance cristalline des grains de niobium, accompagnée d-une contamination par le substrat, apparaît au niveau du micropont. Cette contamination semble responsable de la diminution de la température critique du micropont et ainsi de son courant critique à 4,2 K.

Keywords : critical currents niobium superconducting junction devices superconducting thin films type II superconductors metallurgical transformations critical temperature critical current adjustment Nb film Dayem microbridges mean Nb grain size Nb contamination





Author: Y. Monfort Daniel Bloyet J.C. Villegier D. Pascal

Source: https://hal.archives-ouvertes.fr/



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