Le champ critique de claquage de films doxyde de polyphénylène réalisés par voie électrochimiqueReport as inadecuate




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Résumé : On a étudié le claquage électrique de films minces d-oxyde de polyphénylène de quelques microns d-épaisseur déposés par voie électrochimique sur un plan en acier inoxydable. L-étude a d-abord été faite en rampe de tension continue dans la géométrie d-électrodes sphèreplan, en fonction du milieu ambiant liquide ou gazeux. L-influence de la pression sur la rigidité diélectrique du matériau, les distributions statistiques de Weibull et les cratères formés au moment du claquage, dans les différents milieux et dans les deux polarités de l-électrode sphérique montrent que le claquage du matériau est causé par des décharges qui se produisent dans le milieu environnant. A partir de l-analyse quantitative de ces décharges, on propose comme critère de caractérisation de la rupture d-un matériau sounmis aux décharges, le champ créé au moment de la rupture par les charges déposées à sa surface. On a réalisé ensuite des échantillons plans ≪ autocicatrisables ≫ par dépôt de couches minces d-aluminium quelques milliers d-Å d-épaisseur sur le film de PPO. On étudie dans cette configuration la durée de vie du matériau.





Author: B. Adohi J. Gosse B. Gosse

Source: https://hal.archives-ouvertes.fr/



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