en fr Magnetometer design methodology within a mechatronic framework Méthodologie de conception de magnétomètre dans une approche mécatronique Report as inadecuate




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1 InESS - Institut d-Electronique du Solide et des Systèmes

Abstract : The engineering of mechatronic systems requires the simultaneous and multi-disciplinary design of the mechanical, electronic and software sub-systems.
In this context, this thesis work is part within the framework on ``Conception Intégrée en Mécatronique Sûre de Fonctionnement-.
The goal was to develop methods that allow and facilitate collaboration between people from different specialties in order to achieve a safe system for operation without setting a priori constraints on a system in particular.
In the first section, we present a hot carrier induced MOSFET degradation model.
We then describe the aging study of basic analog structures.
We propose a design methodology to maximize the life of a circuit, and therefore micro-sensors, using the aging model.
In the second part, taking as example a Miller OTA, we show how our method allows to design safe complex structures.
To finish the manuscript we propose an original application of our design method: an analog aging sensor for CMOS integrated circuit.


Résumé : L-ingénierie des systèmes mécatroniques nécessite la conception simultanée et pluri-disciplinaire des différents sous-systèmes mécanique, électronique et informatique.
Dans ce contexte, ces travaux de thèse s-inscrivent dans le cadre d-un projet plus général portant sur la ``Conception Intégrée en Mécatronique Sûre de Fonctionnement-.
Il s-agissait de développer des méthodes devant permettre et faciliter la collaboration entre personnes de spécialités différentes dans le but d-aboutir à un système sûr de fonctionnement sans fixer a priori de contraintes sur un élément du système en particulier.
Dans la première partie, nous présentons donc un modèle de vieillissement du transistor MOSFET induit par le mécanisme des porteurs chauds.
Nous détaillons ensuite l-étude du vieillissement de structures de bases de l-électronique analogique.
Nous proposons une méthodologie de conception permettant de maximiser la durée de vie d-un circuit, donc des micro-capteurs, grâce à l-utilisation du modèle de vieillissement.
Dans la deuxième partie, en prenant comme exemple un OTA Miller, nous montrons comment notre méthode permet de concevoir des structures complexes sûres de fonctionnement.
Pour clore le manuscrit nous proposons une application originale de notre méthode de conception : un capteur de vieillissement de circuit intégré analogique CMOS.


en fr

Keywords : CMOS compact model aging analog design reliability transistor sizing methodology DfR

Mots-clés : fiabilité dimensionnement des transistors conception analogique vieillissement modèle compact méthodologie





Author: Benoit Dubois -

Source: https://hal.archives-ouvertes.fr/



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