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1 TIMA - Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture

Abstract : The reduction of electrical parameters of transistors, resulting of the progress done in the IC-s manufacturing technologies, make present and future devices more and more sensitive to transient perturbations, so-called S.E.E. Single Event Effects provoked as the consequence of the current pulse issued from the impact with sensitive areas of the circuit, of energetic particles present in the environment where the circuit operates 1. Among the different types of S.E.E. can be mentioned the SEU Single Event Upsets which consist in the inversion of the content of memory cells, the SEL Single Event Latchup which may lead to the device destruction as the consequence of thermal effects. This thesis aims at giving a description and validating the methodologies required to estimate the sensitivity to radiations of two types of digital integrated circuits, processors and memories, components used in embedded systems.

Résumé : La réduction des dimensions et paramètres électriques des transistors, fruit des progrès dans les technologies de fabrication de circuits intégrés, rend les composants présents et futurs de plus en plus sensibles aux perturbations appelées évènements singuliers S.E.E. Single Event Effects. Ces événements sont la conséquence d-une impulsion de courant résultant de l-impact dans des zones sensibles du circuit, de particules énergétiques présentes dans l-environnement dans lequel ils fonctionnent. Parmi les différents types de SEE, peuvent être mentionnés les SEU Single Event Upsets qui consistent en l-inversion du contenu de cellules mémoires, les SEL Single Event Latchups qui donnent lieu à des courts-circuits masse-alimentation et peuvent donc conduire à la destruction du circuit par effet thermique. Cette thèse a pour but de décrire et valider les méthodologies nécessaires pour évaluer de manière précise la sensibilité face aux radiations de deux types de circuits numériques représentatifs, processeurs et mémoires, composants utilisés dans la plupart des systèmes embarqués.

Mots-clés : SPACE ENVIRONMENT ATMOSPHERIC ENVIRONMENT single Events FAULT INJECTION processors PARTICLE ACCELERATORS ENVIRONNEMENT SPATIAL ENVIRONNEMENT ATMOSPHERIQUE EFFETS SINGULIERS injection de fautes UPSET PROCESSEURS SEU ACCELERATEURS DE PARTICULES





Author: P. Peronnard -

Source: https://hal.archives-ouvertes.fr/



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